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電性參數(shù)測試可以節(jié)省大量的生產(chǎn)成本：它減少了維修，尤其是在沒有全面性功能測試的情況下，可鎖定功能測試無法檢測到的缺陷，使生產(chǎn)技術(shù)人員能夠自主篩選出不良品以保證產(chǎn)品質(zhì)量。Seica 解決方案：Compact Line和Pilot Line.

50微米超小測試點(diǎn)進(jìn)行飛針測試

飛針的特點(diǎn)是靈活。 但常常該解決方案也面臨定制化的要求。 用于芯片測試的 ATE 使用所謂的“晶元接口”（即探針卡）來接觸晶元在封裝前對芯片進(jìn)行測試。 這些探針卡的測試往往需要需要接觸典型尺寸為 50 微米的測試點(diǎn)。 對這些測試點(diǎn)測試來保證探針卡正反面的導(dǎo)通連接性。

由于其定位精度和在電路板兩側(cè)的并行測試，PILOT V8?NEXT>系列秩序最少定制即可達(dá)到最佳解決方案。

實(shí)現(xiàn)

· 通過將可用的探頭減少到2個(gè)來定制 Pilot V8 測試系統(tǒng)

· 這2個(gè)測試頭將配置高精度電機(jī)和超軟針來適用于PCB測試

· 安裝高分辨率相機(jī)以正確顯示超小測試點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn)

·探針卡自動化測試

· 安全且可重復(fù)的放板方式

· 可對探針卡上的元器件進(jìn)行MDA測試

LED板的ICT和功能測試

近年來，由于在相關(guān)技術(shù)上的創(chuàng)新，LED 已成為廣泛使用的元件，不僅作為指示燈，也可以用作真正的光源。 電子制造領(lǐng)域持續(xù)的進(jìn)行著優(yōu)化貼裝和測試的工藝，因?yàn)?/span>有大量與工藝和測試相關(guān)的相關(guān)問題需要解決。 在這方面，在汽車行業(yè)具有挑戰(zhàn)性的需求驅(qū)動下，Seica測試設(shè)備集成了特殊LED測試傳感器的方案，能夠測試覆蓋各種LED參數(shù)，并保證LED按規(guī)范運(yùn)行。

實(shí)現(xiàn)：

· Compact SL測試設(shè)備和FEASA LED測試模塊之間的軟件集成

· 安裝具有LED燈板電路測試以及每個(gè) LED 單獨(dú)光纖專用夾具

· 測試流程：D.U.T.ICT初步測試，D.U.T. 上電，帶有 LED 上電后的功能測試，通過傳感器采樣分析LED特性。

優(yōu)點(diǎn):

 在復(fù)雜參數(shù)要求情況下亦能保證客觀的產(chǎn)品質(zhì)量

·無需操作員

·不良產(chǎn)品維修時(shí)能快速定位不合格元件